近日，研究院地質(zhì)資源與環(huán)境研究所“納米級測量裝置”獲批實(shí)用新型專利（專利號：202122530188.9），這也是地環(huán)所兩年來獲批的第三項實(shí)用新型專利。

　　此項發(fā)明通過齒輪組合裝置和機(jī)械放大原理，對傳統(tǒng)的螺旋測微器進(jìn)行改進(jìn)，有效地提高了測量精度，理論上可達(dá)納米級。這為研究院在“地表環(huán)境研究和地質(zhì)災(zāi)害預(yù)防”方向研究提供了重要技術(shù)支撐。