近日，研究院地質(zhì)資源與環(huán)境研究所“納米級(jí)測(cè)量裝置”獲批實(shí)用新型專利（專利號(hào)：202122530188.9），這也是地環(huán)所兩年來(lái)獲批的第三項(xiàng)實(shí)用新型專利。

　　此項(xiàng)發(fā)明通過(guò)齒輪組合裝置和機(jī)械放大原理，對(duì)傳統(tǒng)的螺旋測(cè)微器進(jìn)行改進(jìn)，有效地提高了測(cè)量精度，理論上可達(dá)納米級(jí)。這為研究院在“地表環(huán)境研究和地質(zhì)災(zāi)害預(yù)防”方向研究提供了重要技術(shù)支撐。